ILT 5000 SED033FW輻照度研究系統(tǒng)

臺(tái)式研究輻照度系統(tǒng)

光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)階單位動(dòng)態(tài)范圍

Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準(zhǔn)）

無(wú)線通信：內(nèi)置

用戶控制或自動(dòng)：范圍、歸零/暗零、采樣率

4-20 mA輸出

15針D Sub和SMA輸入端口

“Set it & Forget It”遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)記錄

電源：USB或內(nèi)置充電電池組

多系統(tǒng)同時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)

包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼

NIST可追溯/ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)

采樣率高達(dá)100 Hz，可編程

ILT5000 SED033FW輻照度研究系統(tǒng)描述：

SED033/F/W探頭設(shè)計(jì)用于各種可見(jiàn)光和近紅外輻照度測(cè)量，包括透射和反射測(cè)量。

動(dòng)態(tài)范圍：7.69e-11至1.54e-1 W/cm²

測(cè)量范圍：400-1064 nm

尺寸：直徑30 x 42 mm。

訂購(gòu)零件#（s）：包括ILT5000*，SED033/F/W

*包括軟件

注：配置不包括圖片中的平板電腦。